ECCD为图像和本地分析了微观级别的各种设施

在任何级别的微观信息中,可以与有关感兴趣特征的化学成分的信息组合。即使在显微镜测量的显微镜明显可视化材料的可视化,也可以使用先进的断层扫描设备。本专业知识区域提供的典型参数包括:尺寸,形状,形态,分布,当地化学,局部浓缩,(本地)结晶等等。狗万专业版

表面的表面上的化学品识别表面需要专用的表面分析设备。现代化设施包括在表面上的化学品分布的成像,方法可以确定地下层中的化学物质的轮廓甚至全3D成像。

放大倍率覆盖整个范围,从易于看见到原子水平

由于样品制备能力大的样品制备能力的大量多样化,所以材料的外部和内部都适合检查。硬质和柔软的材料需要不同的方法,对于悬浮液制备方法也可用。材料的横截面可以在较大区域上进行,以创建概述或非常本地。

基于服务化学工业的长期传统,ECCD负责监督技术能力的益处和局限,以便为每个请求选择正确的方法。根据客户的需求,这些设施可以用作独立应用或以多分析方法使用。

设施

显微镜

  • 光学显微镜(OM)
  • 扫描电子显微镜(SEM)
  • (扫描)透射电子显微镜(茎)
  • 原子力显微镜(AFM)

本地化学分析和化学成像

  • 能量分散X射线光谱(EDX)
  • X射线照片 - 电子光谱(XPS)
  • 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)
  • 成像红外光谱(IR)
  • 成像拉曼光谱(拉曼)

结晶度

  • X射线衍射(XRD)
  • 透射电子显微镜(TEM)

样品制备和改性

  • 抛光
  • (超级)microtomy
  • 低温切割
  • 离子铣削
  • 聚焦离子束(SEM)
  • AR集群分析
  • 染色
  • 金属或碳沉积

应用领域

研究

  • 薄膜/基质中的颗粒分散体,用于优化性能
  • 表面改性
  • 纳米颗粒
  • 老化材料
  • 反应机制
  • 逆向工程
  • 产品优化
  • 流程优化

故障分析

  • 表面缺陷,例如陨石坑和粘附/分层
  • 材料缺陷
  • 污染物(斑点,变色)
  • 机械故障(识别和采购)

感兴趣的?

专家能力中心Deventer位于荷兰德德州诺森德·努温的核心中心。

例子